“NI PXIe-5162数字化仪结合了高速、高通道和高分辨率测量三大特点，让传统的示波器用户突破了使用传统箱型仪器进行自动化测试的界限，”NI模块化仪器研发总监Steve Warntjes表示。 “使用我们的高速数字化仪与LabVIEW抖动分析工具包，可以帮助工程师借助现代PC的处理性能，而不是箱型示波器上传统的嵌入式处理器，加快测量系统的速度。”
NI PXIe-5162 特性
10位垂直分辨率，可更深入地解读信号；
单个3U PXI Express插槽包含4个通道，在一个PXI机箱中可扩展至68个通道；
一个通道上5 GS/s的最大采样率或同时使用四个通道，每通道1.25 GS/s采样率。
LabVIEW抖动分析工具包特性
内置时钟恢复、眼图、抖动、电平和时域测量函数；
眼图和掩膜测试的示例程序，以及使用双狄拉克(dual-Dirac)和基于频谱的分离方法，进行随机抖动和确定性抖动(RJ/ DJ)分离的示例程序。
有关数字化仪的更多内容，请访问下列页面：http://www.ni.com/digitizers/zhs/
关于NI
自1976年以来，美国国家仪器，简称NI一直致力于为工程师和科学家提供各种工具来提高效率、加速创新和探索。 NI的图形化系统设计方法为工程界提供了集成式的软硬件平台,有助于加速测量和控制系统的开发。长期以来，NI一直期望并努力通过自身的技术来改善社会的发展，确保客户、员工、供应商及股东获得成功。
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